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鏡頭測試,光學表面測試,人工晶狀體質(zhì)量控制 Kaleo MTF測試儀
Phasics為研發(fā)和生產(chǎn)中的鏡片質(zhì)量控制和表面測量提供了全方位的計量工具。這些計量儀器包括獨立傳感器和自動離軸透鏡測試臺等等產(chǎn)品。所有這些解決方案采用Phasics獨特的波陣面技術(shù),并在保持易于使用和通用計量工具的同時執(zhí)行可靠而完整的測量。覆蓋的波長范圍從紫外線到遠紅外線,并且都可以使用相控解決方案。
Kaleo IR波前傳感器產(chǎn)品介紹:
該產(chǎn)品使得紅外透鏡的質(zhì)量控制非常簡單。Kaleo IR MTF可以在所有頻率下單次拍攝而無需掃描或復雜對準。 該單次采集還提供了所有波前像差。Kaleo紅外工作臺可作為NIR,SWIR,MWIR或LWIR區(qū)域中任何波長組的具有成本效益的紅外干涉儀。
MTF測試儀可測參數(shù):
-MTF函數(shù)
-波前誤差和像差
-多波長測試
Kaleo MTF for R&D鏡頭測試平臺介紹:
Kaleo MTF工作臺可在多個波長下執(zhí)行自動離軸MTF和波前誤差測量。 它還通過聚焦MTF,畸變,EFL等方式來測量像差(澤尼克系數(shù))。依據(jù)鏡頭的出瞳參數(shù),精確計算并測量透鏡的離軸參數(shù)。 該工作臺利用Phasics提供的完整的質(zhì)量控制技術(shù),具有易用性和多功能性。
Kaleo MTF for R&D鏡頭測試平臺特點
-400至1100nm的6個波長
-在不同的方位角的測試
Kaleo-I傳函測量儀介紹:
儀器是專為屈光人工晶狀體(球面,非球面,復曲面或雙焦點)的質(zhì)量控制而設計的。由于采用高分辨率的波前傳感器,它可以實現(xiàn)快速而可靠的測量。在生產(chǎn)中,它提供了ISO11979標準所要求的功率和MTF,包括模型眼。對于研發(fā)而言,它還提供了許多額外的結(jié)果,例如通過焦點的MTF和球差的像差。
鏡頭質(zhì)量控制平臺Kaleo-I的特點:
-符合ISO 11979-2標準的電源和MTF上通過/失敗顯示
-單個鏡頭和批次自動報告
-專用試管和模型眼
-快速的計算機輔助對準(僅對中)
Kaleo光學傳遞函數(shù)測量儀產(chǎn)品介紹:
Phasics可提供較為完整的透鏡特性測試方案:離軸MTF和多種波長的波前誤差。得益于Phasics專利技術(shù),即使在大視野(FoV)時也可以提供準確的結(jié)果。Kaleo MTF測試儀非常適合測量少量物鏡。操作員或研發(fā)工程師可以使用它來驗證設計和原型階段。 光學傳遞函數(shù)測量儀可通過一次采集即可提供完整的測試參數(shù)輸出。
市場:汽車行業(yè)| ADAS | 監(jiān)視和安全| 無人機| 移動電話
Phasics Kaleo MTF 測試平臺的特點:
-單次測量,MTF測量高達截止頻率,精度類似于干涉測量法
-高品質(zhì)的準直光源,經(jīng)濟有效的解決方案
-無需重新校準離軸測量,自動對焦,易于校準和多種應用
-幾種不同的波長(默認為RGB + IR),在幾個方位角處測量
-全自動測量過程
Phasics MTF光學傳遞函數(shù)測量儀可測的參數(shù)
-軸上和軸外MTF,通過焦點MTF
-傳輸?shù)牟ㄇ板e誤,Zernike多項式
-鏡頭參數(shù):EFL,F(xiàn)#,OPD在鏡頭出口瞳孔
-散光,圖像失真,場曲率
-相對照度曲線
法國Phasics 鏡頭測試系統(tǒng)的具體參數(shù):
參數(shù) | 參數(shù)值 |
光學設置 | 有限到無限配置 |
波長范圍 | 400-1100 nm / 900-1700 nm / 3-5μm / 8-14μm |
入瞳直徑 | Up to 8.8 mm |
F# | > 1.8 mm |
Flange焦距 | 8 to 30 mm |
焦距范圍 | 5 to 500 mm |
視場角 | Up to ±120° |
MTF on-axis | 準確性 <1%* - 重復性 <0.5%* |
MTF off-axis | 準確性 <2%** -重復性 <1%** |
MTF 精確度 | LWIR ±0.02 / MWIR ±0.03 / SWIR ±0.01 / Visible ±0.02 |
MTF 重復性 | LWIR & MWIR ±0.015 SWIR & Visible ±0.01 |
失真 | 準確性 <0.5% - 重復性 <0.05% |
場曲率 | 準確性 <5μm - 重復性 <1μm |
OPD(光程差)軸上 | 準確性 20 nm RMS -重復性<5 nm RMS |
法國 Phasics公司提供Kaleo光學傳遞函數(shù)測量儀,其能提供較為完整的透鏡特性測試方案,包括離軸MTF和寬波長的波前誤差測試。這個系列的MTF測試儀可用于鏡頭測試,光學表面測試。Kaleo IR 紅外透鏡的質(zhì)量控制及測試系統(tǒng),提供多個紅外波長的測試方案。Kaleo MTF for R&D測試儀對于研發(fā)的特點是多個波長下進行自動離軸MTF以及波前誤差測試。Kaleo i是一款人工晶狀體質(zhì)量控制測試儀。
Kaleo IR波前傳感器產(chǎn)品介紹:
該產(chǎn)品使得紅外透鏡的質(zhì)量控制非常簡單。Kaleo IR MTF可以在所有頻率下單次拍攝而無需掃描或復雜對準。 該單次采集還提供了所有波前像差。Kaleo紅外工作臺可作為NIR,SWIR,MWIR或LWIR區(qū)域中任何波長組的具有成本效益的紅外干涉儀。
Phasics公司Kaleo光學傳遞函數(shù)測量儀MTF測試儀可測參數(shù):
-MTF函數(shù)
-波前誤差和像差
-多波長測試
Phasics公司Kaleo光學傳遞函數(shù)測量儀Kaleo MTF for R&D鏡頭測試平臺介紹:
Kaleo MTF工作臺可在多個波長下執(zhí)行自動離軸MTF和波前誤差測量。 它還通過聚焦MTF,畸變,EFL等方式來測量像差(澤尼克系數(shù))。依據(jù)鏡頭的出瞳參數(shù),精確計算并測量透鏡的離軸參數(shù)。 該工作臺利用Phasics提供的最完整的質(zhì)量控制技術(shù),具有易用性和多功能性。
Phasics公司Kaleo光學傳遞函數(shù)測量儀Kaleo MTF for R&D鏡頭測試平臺特點
-400至1100nm的6個波長
-在不同的方位角的測試
Kaleo-I傳函測量儀介紹:
儀器是專為屈光人工晶狀體(球面,非球面,復曲面或雙焦點)的質(zhì)量控制而設計的。由于采用高分辨率的波前傳感器,它可以實現(xiàn)快速而可靠的測量。在生產(chǎn)中,它提供了ISO11979標準所要求的功率和MTF,包括模型眼。對于研發(fā)而言,它還提供了許多額外的結(jié)果,例如通過焦點的MTF和球差的像差。
鏡頭質(zhì)量控制平臺Kaleo-I的特點:
-符合ISO 11979-2標準的電源和MTF上通過/失敗顯示
-單個鏡頭和批次自動報告
-專用試管和模型眼
-快速的計算機輔助對準(僅對中)
Kaleo光學傳遞函數(shù)測量儀產(chǎn)品介紹:
Phasics可提供最完整的透鏡特性測試方案:離軸MTF和多種波長的波前誤差。得益于Phasics專利技術(shù),即使在大視野(FoV)時也可以提供準確的結(jié)果。Kaleo MTF測試儀非常適合測量少量物鏡。操作員或研發(fā)工程師可以使用它來驗證設計和原型階段。 光學傳遞函數(shù)測量儀可通過一次采集即可提供完整的測試參數(shù)輸出。
市場:汽車行業(yè)| ADAS | 監(jiān)視和安全| 無人機| 移動電話
Phasics Kaleo MTF 測試平臺的特點:
-單次測量,MTF測量高達截止頻率,精度類似于干涉測量法
-高品質(zhì)的準直光源,經(jīng)濟有效的解決方案
-無需重新校準離軸測量,自動對焦,易于校準和多種應用
-幾種不同的波長(默認為RGB + IR),在幾個方位角處測量
-全自動測量過程
Phasics MTF光學傳遞函數(shù)測量儀可測的參數(shù)
-軸上和軸外MTF,通過焦點MTF
-傳輸?shù)牟ㄇ板e誤,Zernike多項式
-鏡頭參數(shù):EFL,F(xiàn)#,OPD在鏡頭出口瞳孔
-散光,圖像失真,場曲率
-相對照度曲線
法國Phasics 鏡頭測試系統(tǒng)的具體參數(shù):
參數(shù) | 參數(shù)值 |
光學設置 | 有限到無限配置 |
波長范圍 | 400-1100 nm / 900-1700 nm / 3-5μm / 8-14μm |
入瞳直徑 | Up to 8.8 mm |
F# | > 1.8 mm |
Flange焦距 | 8 to 30 mm |
焦距范圍 | 5 to 500 mm |
視場角 | Up to ±120° |
MTF on-axis | 準確性 <1%* - 重復性 <0.5%* |
MTF off-axis | 準確性 <2%** -重復性 <1%** |
MTF 精確度 | LWIR ±0.02 / MWIR ±0.03 / SWIR ±0.01 / Visible ±0.02 |
MTF 重復性 | LWIR & MWIR ±0.015 SWIR & Visible ±0.01 |
失真 | 準確性 <0.5% - 重復性 <0.05% |
場曲率 | 準確性 <5μm - 重復性 <1μm |
OPD(光程差)軸上 | 準確性 20 nm RMS -重復性<5 nm RMS |
ADVANTAGES
COMPLETE TEST
Aberration of complex zoom lens with high NA (F/2)
OUTCOMES
SOFTWARE
Optical set up | Finite to infinite configuration |
Wavelength range | 400-1100 nm / 900-1700 nm / 3-5μm / 8-14μm |
Entrance pupil diameter | Up to 8.8 mm |
F# | > 1.8 mm |
Flange focal length | 8 to 30 mm |
Focal length range | 5 to 500 mm |
Filed of view | Up to ±120° |
MTF on-axis | Accuracy <1%* - Repeatability <0.5%* |
MTF off-axis | Accuracy <2%** - Repeatability <1%** |
MTF accuracy | LWIR ±0.02 / MWIR ±0.03 / SWIR ±0.01 / Visible ±0.02 |
MTF repeatability | LWIR & MWIR ±0.015 SWIR & Visible ±0.01 |
Distortion | Accuracy <0.5% - Repeatability <0.05% |
Field curvature | Accuracy <5μm - Repeatability <1μm |
OPD (optical path difference) on-axis | Accuracy 20 nm RMS - Repeatability <5 nm RMS |
* This specification is obtained for optics, measured at 660nm for 3 frequencies and a chief ray angle below 8°
** This specification is given over the whole field of view