看镜子里的你有多荡_国产又粗又猛又大的视频_欧美激情一区在线观看_成年无码av动漫全部免费

產(chǎn)品分類

瀏覽過的商品

Phasics公司Kaleo光學傳遞函數(shù)測量儀
 
   
查看大圖

Phasics公司Kaleo光學傳遞函數(shù)測量儀

法國 Phasics公司提供Kaleo光學傳遞函數(shù)測量儀,其能提供最完整的透鏡特性測試方案,包括離軸MTF和寬波長的波前誤差測試。這個系列的MTF測試儀可用于鏡頭測試,光學表面測試。Kaleo IR 紅外透鏡的質(zhì)量控制及測試系統(tǒng),提供多個紅外波長的測試方案。Kaleo MTF for R&D測試儀對于研發(fā)的特點是多個波長下進行自動離軸MTF以及波前誤差測試。Kaleo i是一款人工晶狀體質(zhì)量控制測試儀。

  • 貨  號:G5E78629EBAAD2
  • 品  牌:Phasics
  • 銷售價:
購買數(shù)量:
  (庫存9999+)
app hook

鏡頭測試,光學表面測試,人工晶狀體質(zhì)量控制 Kaleo MTF測試儀

 

Phasics為研發(fā)和生產(chǎn)中的鏡片質(zhì)量控制和表面測量提供了全方位的計量工具。這些計量儀器包括獨立傳感器和自動離軸透鏡測試臺等等產(chǎn)品。所有這些解決方案采用Phasics獨特的波陣面技術(shù),并在保持易于使用和通用計量工具的同時執(zhí)行可靠而完整的測量。覆蓋的波長范圍從紫外線到遠紅外線,并且都可以使用相控解決方案。

 

Kaleo IR波前傳感器產(chǎn)品介紹:

該產(chǎn)品使得紅外透鏡的質(zhì)量控制非常簡單。Kaleo IR MTF可以在所有頻率下單次拍攝而無需掃描或復雜對準。 該單次采集還提供了所有波前像差。Kaleo紅外工作臺可作為NIR,SWIR,MWIR或LWIR區(qū)域中任何波長組的具有成本效益的紅外干涉儀。

 

MTF測試儀可測參數(shù):

-MTF函數(shù)

-波前誤差和像差

-多波長測試

 

Kaleo MTF for R&D鏡頭測試平臺介紹:

Kaleo MTF工作臺可在多個波長下執(zhí)行自動離軸MTF和波前誤差測量。 它還通過聚焦MTF,畸變,EFL等方式來測量像差(澤尼克系數(shù))。依據(jù)鏡頭的出瞳參數(shù),精確計算并測量透鏡的離軸參數(shù)。 該工作臺利用Phasics提供的完整的質(zhì)量控制技術(shù),具有易用性和多功能性。

 

Kaleo MTF for R&D鏡頭測試平臺特點

-400至1100nm的6個波長

-在不同的方位角的測試

 

Kaleo-I傳函測量儀介紹:

儀器是專為屈光人工晶狀體(球面,非球面,復曲面或雙焦點)的質(zhì)量控制而設計的。由于采用高分辨率的波前傳感器,它可以實現(xiàn)快速而可靠的測量。在生產(chǎn)中,它提供了ISO11979標準所要求的功率和MTF,包括模型眼。對于研發(fā)而言,它還提供了許多額外的結(jié)果,例如通過焦點的MTF和球差的像差。

 

鏡頭質(zhì)量控制平臺Kaleo-I的特點:

-符合ISO 11979-2標準的電源和MTF上通過/失敗顯示

-單個鏡頭和批次自動報告

-專用試管和模型眼

-快速的計算機輔助對準(僅對中)

 

Kaleo光學傳遞函數(shù)測量儀產(chǎn)品介紹:

Phasics可提供較為完整的透鏡特性測試方案:離軸MTF和多種波長的波前誤差。得益于Phasics專利技術(shù),即使在大視野(FoV)時也可以提供準確的結(jié)果。Kaleo MTF測試儀非常適合測量少量物鏡。操作員或研發(fā)工程師可以使用它來驗證設計和原型階段。 光學傳遞函數(shù)測量儀可通過一次采集即可提供完整的測試參數(shù)輸出。

市場:汽車行業(yè)| ADAS | 監(jiān)視和安全| 無人機| 移動電話

Phasics Kaleo MTF 測試平臺的特點:

-單次測量,MTF測量高達截止頻率,精度類似于干涉測量法

-高品質(zhì)的準直光源,經(jīng)濟有效的解決方案

-無需重新校準離軸測量,自動對焦,易于校準和多種應用

-幾種不同的波長(默認為RGB + IR),在幾個方位角處測量

-全自動測量過程

 

Phasics MTF光學傳遞函數(shù)測量儀可測的參數(shù)

-軸上和軸外MTF,通過焦點MTF

-傳輸?shù)牟ㄇ板e誤,Zernike多項式

-鏡頭參數(shù):EFL,F(xiàn)#,OPD在鏡頭出口瞳孔

-散光,圖像失真,場曲率

-相對照度曲線

 

法國Phasics 鏡頭測試系統(tǒng)的具體參數(shù):

參數(shù)

參數(shù)值

光學設置

有限到無限配置

波長范圍

400-1100 nm / 900-1700 nm / 3-5μm / 8-14μm

入瞳直徑

Up to 8.8 mm

F#

> 1.8 mm

Flange焦距

8 to 30 mm

焦距范圍

5 to 500 mm

視場角

Up to ±120°

MTF on-axis

準確性 <1%* - 重復性 <0.5%*

MTF off-axis

準確性 <2%** -重復性 <1%**

MTF 精確度

LWIR ±0.02 / MWIR ±0.03 / SWIR ±0.01 / Visible ±0.02

MTF 重復性

LWIR & MWIR ±0.015 SWIR & Visible ±0.01

失真

準確性 <0.5% - 重復性 <0.05%

場曲率

準確性 <5μm - 重復性 <1μm

OPD(光程差)軸上

準確性 20 nm RMS -重復性<5 nm RMS


法國 Phasics公司提供Kaleo光學傳遞函數(shù)測量儀,其能提供較為完整的透鏡特性測試方案,包括離軸MTF和寬波長的波前誤差測試。這個系列的MTF測試儀可用于鏡頭測試,光學表面測試。Kaleo IR 紅外透鏡的質(zhì)量控制及測試系統(tǒng),提供多個紅外波長的測試方案。Kaleo MTF for R&D測試儀對于研發(fā)的特點是多個波長下進行自動離軸MTF以及波前誤差測試。Kaleo i是一款人工晶狀體質(zhì)量控制測試儀。

Kaleo IR波前傳感器產(chǎn)品介紹:

該產(chǎn)品使得紅外透鏡的質(zhì)量控制非常簡單。Kaleo IR MTF可以在所有頻率下單次拍攝而無需掃描或復雜對準。 該單次采集還提供了所有波前像差。Kaleo紅外工作臺可作為NIR,SWIR,MWIR或LWIR區(qū)域中任何波長組的具有成本效益的紅外干涉儀。

 

Phasics公司Kaleo光學傳遞函數(shù)測量儀MTF測試儀可測參數(shù):

-MTF函數(shù)

-波前誤差和像差

-多波長測試

 

Phasics公司Kaleo光學傳遞函數(shù)測量儀Kaleo MTF for R&D鏡頭測試平臺介紹:

Kaleo MTF工作臺可在多個波長下執(zhí)行自動離軸MTF和波前誤差測量。 它還通過聚焦MTF,畸變,EFL等方式來測量像差(澤尼克系數(shù))。依據(jù)鏡頭的出瞳參數(shù),精確計算并測量透鏡的離軸參數(shù)。 該工作臺利用Phasics提供的最完整的質(zhì)量控制技術(shù),具有易用性和多功能性。

 

Phasics公司Kaleo光學傳遞函數(shù)測量儀Kaleo MTF for R&D鏡頭測試平臺特點

-400至1100nm的6個波長

-在不同的方位角的測試

 

Kaleo-I傳函測量儀介紹:

儀器是專為屈光人工晶狀體(球面,非球面,復曲面或雙焦點)的質(zhì)量控制而設計的。由于采用高分辨率的波前傳感器,它可以實現(xiàn)快速而可靠的測量。在生產(chǎn)中,它提供了ISO11979標準所要求的功率和MTF,包括模型眼。對于研發(fā)而言,它還提供了許多額外的結(jié)果,例如通過焦點的MTF和球差的像差。

 

鏡頭質(zhì)量控制平臺Kaleo-I的特點:

-符合ISO 11979-2標準的電源和MTF上通過/失敗顯示

-單個鏡頭和批次自動報告

-專用試管和模型眼

-快速的計算機輔助對準(僅對中)

 

Kaleo光學傳遞函數(shù)測量儀產(chǎn)品介紹:

Phasics可提供最完整的透鏡特性測試方案:離軸MTF和多種波長的波前誤差。得益于Phasics專利技術(shù),即使在大視野(FoV)時也可以提供準確的結(jié)果。Kaleo MTF測試儀非常適合測量少量物鏡。操作員或研發(fā)工程師可以使用它來驗證設計和原型階段。 光學傳遞函數(shù)測量儀可通過一次采集即可提供完整的測試參數(shù)輸出。

市場:汽車行業(yè)| ADAS | 監(jiān)視和安全| 無人機| 移動電話

Phasics Kaleo MTF 測試平臺的特點:

-單次測量,MTF測量高達截止頻率,精度類似于干涉測量法

-高品質(zhì)的準直光源,經(jīng)濟有效的解決方案

-無需重新校準離軸測量,自動對焦,易于校準和多種應用

-幾種不同的波長(默認為RGB + IR),在幾個方位角處測量

-全自動測量過程

 

Phasics MTF光學傳遞函數(shù)測量儀可測的參數(shù)

-軸上和軸外MTF,通過焦點MTF

-傳輸?shù)牟ㄇ板e誤,Zernike多項式

-鏡頭參數(shù):EFL,F(xiàn)#,OPD在鏡頭出口瞳孔

-散光,圖像失真,場曲率

-相對照度曲線

 

法國Phasics 鏡頭測試系統(tǒng)的具體參數(shù):

參數(shù)

參數(shù)值

光學設置

有限到無限配置

波長范圍

400-1100 nm / 900-1700 nm / 3-5μm / 8-14μm

入瞳直徑

Up to 8.8 mm

F#

> 1.8 mm

Flange焦距

8 to 30 mm

焦距范圍

5 to 500 mm

視場角

Up to ±120°

MTF on-axis

準確性 <1%* - 重復性 <0.5%*

MTF off-axis

準確性 <2%** -重復性 <1%**

MTF 精確度

LWIR ±0.02 / MWIR ±0.03 / SWIR ±0.01 / Visible ±0.02

MTF 重復性

LWIR & MWIR ±0.015 SWIR & Visible ±0.01

失真

準確性 <0.5% - 重復性 <0.05%

場曲率

準確性 <5μm - 重復性 <1μm

OPD(光程差)軸上

準確性 20 nm RMS -重復性<5 nm RMS


ADVANTAGES


  • Single shot measurement
  • MTF measurement up to cut-off frequency
  • Accuracy similar to interferometry
  • High quality collimated source
  • No need to realign for off-axis measurement
  • Cost effective solution
  • Several different wavelengths (RGB + IR by default)
  • Measure at several azimuths
  • Autofocus
  • Fully automated measurement process
  • Easy alignment & versatile application

  
COMPLETE TEST


distorsion+MTF+ coma + transmission
Aberration of complex zoom lens with high NA (F/2)

OUTCOMES


  • On-axis & Off-axis MTF
  • Through focus MTF
  • Transmitted wavefront error
  • Zernike polynomials
  • Lens parameters: EFL, F#
  • OPD in the lens exit pupil
  • Astigmatism
  • Image distortion
  • Field curvature
  • Relative illumination curve

 
 
 

SOFTWARE


  • Possibility to select wavelength, field angles, number of iterations (for repeatability assessment)
  • Real-time display of relative illumination and intensity
  • Setting database

Specifications

Optical set upFinite to infinite configuration
Wavelength range400-1100 nm / 900-1700 nm / 3-5μm / 8-14μm
Entrance pupil diameterUp to 8.8 mm
F#> 1.8 mm
Flange focal length8 to 30 mm
Focal length range5 to 500 mm
Filed of viewUp to ±120°
MTF on-axisAccuracy <1%* - Repeatability <0.5%*
MTF off-axisAccuracy <2%** - Repeatability <1%**
MTF accuracyLWIR ±0.02 / MWIR ±0.03 / SWIR ±0.01 / Visible ±0.02
MTF repeatabilityLWIR & MWIR ±0.015 SWIR & Visible ±0.01
DistortionAccuracy <0.5% - Repeatability <0.05%
Field curvatureAccuracy <5μm - Repeatability <1μm
OPD (optical path difference) on-axisAccuracy 20 nm RMS - Repeatability <5 nm RMS

* This specification is obtained for optics, measured at 660nm for 3 frequencies and a chief ray angle below 8°
** This specification is given over the whole field of view

如果您對本商品有什么問題,請?zhí)釂栕稍?
如果您對本商品有什么評價或經(jīng)驗,歡迎分享!