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CT400無源光器件測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
傳統(tǒng)光器件和光模塊的光損耗測(cè)試一般有兩種方法：采用自己搭建的步進(jìn)式測(cè)試方案或完整的集成式掃描系統(tǒng)。前者由于自身系統(tǒng)的限制，很難滿足光傳遞過程中連續(xù)掃描測(cè)試的需求；而后者盡管在性能上可以得到保障，但是由于系統(tǒng)的價(jià)格和擴(kuò)展性較差，也很難被用戶所接受。
CT-400采用先進(jìn)的設(shè)計(jì)理念，克服了兩種測(cè)試方法的缺點(diǎn)，形成了業(yè)界最為完整的、緊湊型的光損耗測(cè)試方案，這種方案價(jià)格低，波長(zhǎng)范圍寬，可以在很寬的光譜范圍內(nèi)對(duì)光器件和光模塊的光功率、光波長(zhǎng)、光損耗和光偏振進(jìn)行精確測(cè)試。
產(chǎn)品特點(diǎn):
技術(shù)參數(shù):
